JNO-MHU is equipment to measure the height of sample, equipped with Z-axis stage handle. It could be equipped easily with new purchasing or existing microscope
JNO-MHU with BX51
(Option)Height Measuring Unit
< Consist of >
JNO-MHU with BX51JNO-MHU SensorJNO-MHU DISPLAY ( 최소단위 0.1 또는 0.2㎛ )JNO-MHU Reset Button
Responding Model
Measurement value unit
Recommended measuring height
CX 41
0.2 ㎛
Below ± 2000㎛
CKX 41
0.2 ㎛
Below ± 2000㎛
BX – FM
0.2 ㎛
Below ± 2000㎛
BX 51/53
0.1 ㎛
Below ± 1000㎛
MX 51
0.1 ㎛
Below ± 1000㎛
MX 61L/61
0.1 ㎛
Below ± 1000㎛
How to Measure Height by JNO-MHU
Left Image : Reset of Z axis(height value reset) Z= 0㎛ Right Image : Measurement of Z axis(height value) Z= 288㎛
JNO-MHU with JNO-ARM
Sample Height : 288.0㎛
Sample Height : 296.6㎛
Heigh Measurement for Microscope
by JNO-MHU & JNO-ARM
Screen Capture Image ( JNO-ARM )_Discontinued function
Bright Filed Image with BX53M Industrial_microscopeDark Filed Image with BX53M Industrial_microscopeSimple Polarized Image with BX53M Industrial_microscope (Simple Polarization)DIC Image with BX53M Industrial_microscope반사형 현미경 (Reflected Microsocpe) 검경법_명시야, 암시야, 간이편광, 미분간섭관찰(DIC)BF (구상흑연주철 )편광 (구상흑연주철 )Fluorescence image구상 흑연 주철의 명시야, 간이편광 이미지 와 형광이미지(우측) 입니다.
BX53M 구성을 위한 다양한 모듈( Module )
Body Frame for BX53MILLUMINATOR for BX53MHead for BX53MLight soruce for BX53MCondensor for BX53MC-mount adapter for BX53MStage for BX53M Industrial_microscope실험 목적에 적합한 모듈과 대물렌즈를 선택 하여 조립하시면 – BX53M 1Set – 가 됩니다 . 상기 이미지는 구매 희망자의 이해를 돕기 위한 것으로, 일부 모듈은 누락되어 있으니, 구매 하시기 전에 전문가의 상담을 받으시기 바랍니다.
UIS2 Objectives ( 대물렌즈 )
UIS2 Objectives for BX53M Industrial_microscope
추가 유닛 ( Option )
Flexibility for Sample Height and Weight
Body Frame 확장을 통한 최대 105mm(4.1인치)의 샘플을 스테이지에 올려서 검경이 가능합니다.
향상된 포커싱 메커니즘으로 최대 6kg 중량의 샘플을 올려 놓고 관찰 할 수 있습니다. (상기 중량은 스테이지의 중량이 포함된 값입니다. )
Flexibility for Sample Height and Weight Samples up to 105 mm can be mounted on the stage with the optional modular unit.
광로 변환 장치 및 추가 변배율 장치
Various types of accessories for multiple purposes. For use between tube and illuminator.
BXFM with BX3M-KMA-SBXFM with U-KMAS높이 측정 모듈 & Lagre StageBXFM은 한정된 BX53M의 고가의 Body Frame의 한계를 벗어난, 저렴한 Body 구성 뿐만 아니라, 다양한 관찰 환경에 맞추어 구성되어 판매 되고 있습니다.
본 발명은 현미경 관찰법 중에서 형광 이미징 관찰과 명시야 이미징 관찰을 동시에 수행할 수 있는 관찰 장치 및 관찰 방법을 제공합니다.
Explanation of patent technology – Simultaneous observation of fluorescence microscopy and bright field microscopy 발명자: (주) 제이엔옵틱 진재환Simultaneous observation of fluorescence microscopy and bright field microscopy (동시관찰) 5만원 지폐의 표면의 명시야 관찰 (Image taken with AcquCAM 23GR2)Simultaneous observation of fluorescence microscopy and bright field microscopy (동시관찰) 5만원 지폐의 형광 관찰 (Image taken with AcquCAM 23GR2)Simultaneous observation of fluorescence microscopy and bright field microscopy (동시관찰) 5만원 지폐의 표면의 명시야 관찰 (Image taken with AcquCAM 23GR2)Simultaneous observation of fluorescence microscopy and bright field microscopy (동시관찰) 5만원 지폐의 표면의 명시야 관찰 (Image taken with AcquCAM 23GR2)
Auramine O나 Auramine-rhodamine을 이용한 염색법으로 20x 또는 40x 대물렌즈로 관찰 한다 (접안렌즈 기준 200배 또는 400배). 이러한 형광염색은 Ziehl-Neelsen (ZN) 염색에 비해 민감도가 10% 높아서 관찰량이 많은 사용자에게 권고하는 것이 좋다.
본 작업은 서울대학교 의과대학 생리학교실 중 한 연구실에서 오랜기간 OLYMPUS BX-WI와 비교하여 매우 떨어진 이미지를 구현해 왔던 니콘의 현미경 FN1을 담당 교수님의 의뢰를 받아 광학개조 작업을 진행 한 결과 이미지입니다. 상기 세 이미지를 보면 원래의 장비에서 이미지에 비하여 상당히 개선된 1차 결과물과 2차 결과물의 이미지를 확인 할 수 있습니다.
아울러 OLYMPUS의 구형현미경인 BX50-WI도 상기 니콘의 현미경인 FN1과 같이 기본 구성으로는 획득 되어지는 이미지의 품질을 기대하기 어렵습니다. 이러한 경우에도 이미지 개선 작업을 통하여 양질의 이미지 획득을 유도 가능합니다.
