Industrial Microscope ( BX53M )

EVIDENT (구 OLYMPUS)

현미경 검경법 ( Microscopy )

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BX53M 구성을 위한 다양한 모듈( Module )

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UIS2 Objectives ( 대물렌즈 )

추가 유닛 ( Option )

Flexibility for Sample Height and Weight

Body Frame 확장을 통한 최대 105mm(4.1인치)의 샘플을 스테이지에 올려서 검경이 가능합니다.

향상된 포커싱 메커니즘으로 최대 6kg 중량의 샘플을 올려 놓고 관찰 할 수 있습니다.
(상기 중량은 스테이지의 중량이 포함된 값입니다. )

Flexibility for Sample Height and Weight
Samples up to 105 mm can be mounted on the stage with the optional modular unit.

광로 변환 장치 및 추가 변배율 장치

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8inch Wafer 검사용 추가 Unit

8인치 웨이퍼 검사 현미경 & 높이 측정 유닛 포함

JNO-WHP86FBX : 8인치 웨이퍼 검사 유닛 ( BX53M 전용 )

JNO-MHU : 단차 또는 높이 측정 유닛

BX53M : OLYMPUS 산업현미경

대물렌즈는 샘플을 확대하는 유닛입니다. 대물렌즈는 샘플의 조건을 명확히 규정하고 있기때문에, 관찰하고자 하는 샘플의 조건에 적합한 대물렌즈를 선택해야 합니다.

조건이 부합하지 않을 경우에는 당연히 좋은 이미지를 기대하기 어렵습니다.

( J&Optic ) Height Measuring Unit

jNO-MHU (높이 측정 추가 장치)

미동핸들이 1회전 할때 BX53M은 100㎛, BXFM은 200 ㎛ 상하 이동을 합니다. 이때 미동핸들에 센서를 장착하여 샘플의 상하 이동값을 읽음으로써, 샘플의 높이 측정을 가능하게 합니다.

FILM CROSS SECTION-OBSERVATION

JNO-FM-BX–SET

필름 전용 현미경으로 찍은 샘플 사진 (동일 샘플)

– 필름 단면 관찰 영상 –

일반 현미경에서 필름 관찰시 문제점

• 필름 단면이 고르지 않다.
• 필름 단면 전체에 초점을 맞추기가 어렵다.
• 필름이 가늘어서 관찰면을 고정하기가 어렵다.

필름 단면 관찰 전용 현미경의 특징

• 선명한 필름 단면 샘플을 획득하기 용이함.
• 필름 단면 전체 영역이 초점 영역과 정합이 용이함.
• 샘플을 관찰하기 편하게 고정하여 관찰 가능
• 샘플의 회전이 용이하여  원하는 각도를 쉽게 맞출 수 있음.
• 샘플의 교환시 초점이 거의 변하지 않아 작업이 편함.
• 투과 반사 조명 모두에 상기의 장점을 모두 활용 가능함.

BXFM system

BXFM 시스템은 다양한 활용법에 사용 될수 있습니다.